日本理學波長色散XRF
德國蔡司掃描電鏡
蔡司工業(yè)CT與三維掃描儀
德國斯派克能量色散XRF
德國斯派克直讀光譜儀
德國斯派克ICP
絕緣電阻測試系統(tǒng)
物理材料實驗室設備
標準樣品
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日本理學同步熱分析儀DSC8231-華普通用
日本理學同步熱分析儀DSC8231測量體重變化和吸熱或放熱反應 -
日本理學差示掃描量熱儀DSC8231-華普通用
差示掃描量熱儀DSC8231差示掃描量熱法（DSC）量化熔化、轉(zhuǎn)變、結(jié)晶和玻璃化轉(zhuǎn)變溫度等反應中的能量變化，主要用于研發(fā);以及聚合物、制藥領(lǐng)域的質(zhì)量控制。 -
福祿克Raynger 3i Plus手持式紅外測溫儀-華普通用
Raytek? Raynger 3i Plus 高溫手持式紅外測溫儀設計用于滿足眾多工業(yè)應用中的過程性能要求，包括原生和再生金屬加工以及石化和發(fā)電廠運行的苛刻的高溫環(huán)境。 -
福祿克Raytek? MP150 高速線掃描紅外測溫儀-華普通用
雷泰MP150紅外行掃描儀是專為使用在高要求的工業(yè)環(huán)境中使用，并可以測得運動物體的準確溫度圖像。 -
福祿克ThermoView TV40 工業(yè)固定式熱成像系統(tǒng)-華普通用
全天候監(jiān)控您的工藝、產(chǎn)品和生產(chǎn)現(xiàn)場 -
功率器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)DT10-華普通用
專業(yè)測試SiC及Si基IGBT、MOSFET動態(tài)時間參數(shù)特性，測試范圍可達3500V 4000A -
Keithley 4200A-SCS半導體參數(shù)分析儀-華普通用
使用 4200A-SCS參數(shù)分析儀（參數(shù)測試儀）加快各類材料、半導體器件和先進工藝的開發(fā)，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業(yè)內(nèi)性能領(lǐng)先電學特性參數(shù)分析儀，提供同步電流電壓 -
TSI POWERSIGHT固體激光器的激光多普勒測速儀LDV-華普通用
TSI的一維、二維或三維（1D,2D或3D）激光多普勒測速（LDV）系統(tǒng)，包含 新型的PowerSight固態(tài)激光器，絕對讓您耳目一新。該款全新增強型系統(tǒng)整合了PowerSight模塊，該模組由最新型固態(tài)激光器 -
Chroma Model3650 SoC測試系統(tǒng)-華普通用
Chroma 3650可在一個測試頭中，提供最多512 個數(shù)位通道，并具備高產(chǎn)能的平行測試功能， 最高可同時測試32 個待測晶片，以提升量產(chǎn)效能。 -
BUCHI Pure 制備色譜系統(tǒng)-華普通用
Pure色譜儀非常的緊湊，確保最高水平的安全性并且易于應用在Flash快速分離和HPLC樣品制備中。 -
檔案掃描美化系統(tǒng)-華普通用
本系統(tǒng)為圖像處理系統(tǒng)，可將文檔上的黑色裝訂孔以及黑邊等自動處理 -
福祿克Raytek? Compact MI3 紅外測溫探頭/高溫計-華普通用
雷泰MI3紅外溫度傳感器代表在連續(xù)非接觸式溫度監(jiān)測的新一代的性能和創(chuàng)新，并廣泛應用于OEM應用和制造工藝中。